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氣相色譜程序升溫時基流增加原因分析

氣相色譜程序升溫時基流增加（漂移大），噪聲增加原因分析如下：1、色譜柱需重新老化或失效；2、新換載氣純度欠佳；3、過濾器失效；4、樣品前處理不當，如：雜質幹擾物太多；5、靈敏度太高。6、數據處理裝置的判峰參數設置不合理。相關產品信息：氣相色譜分析儀,變壓器油色譜分析儀,天然氣分析儀,桃花视频APP在线观看價格

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氣相色譜分析之出峰後基線下移

出峰後基線下移的主要原因分析如下：1、樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態；2、FID被汙染狀況發生改變，或氣流比發生變化；3、係統出現漏氣，或出現堵塞；4、色譜柱被汙染；5、樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發生作用。

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氣相色譜出現拖尾峰的原因分析

1、氣相色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；2、樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；3、汽化管沒有安裝好或破損，樣品隻能脫尾進入色譜柱；4、化室的溫度低或偏高；5、載氣流量偏低；6、進樣量大；7、載氣係統(如注射墊處)有漏氣；8、進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣汙染；9、色譜柱被汙染至使被分析組分和高沸點汙染物作用；10、補充氣未開或偏低；11、色譜柱溫度偏低或失效；12、甲烷化Ni催化劑失效；13、進樣技術差(如速...

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氣相色譜出現“N“ 或 “W”峰及舌頭峰的原因

一、"N"或“W”峰出現的原因1、TCD操作，用N2作載氣由於熱傳導率非線性引起；2、FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如CS2)，或氣流比欠佳時；3、ECD操作時，由於檢測器被汙染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈衝電源有毛病。二、舌頭峰(前延峰)出現的原因1、汽化溫度偏低；2、載氣流量小：3、進樣量大，汽化時間長；4、汽化室被汙染，樣品有吸附效應；5、樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被汙染；6、進樣技術差(揮發性組分的進樣速度太慢)；7、峰前出現了“鬼”峰。

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氣相色譜出現台階峰和負峰的原因

一、台階峰1、TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；2、氣體流量突變如：注射墊突然漏氣，氣路受阻等；3、記錄色譜峰裝置故障如：拉線鬆。二、負峰1、TCD用氮做載氣，由於待測組分在N2中濃度不同，熱傳導值呈現非線性而可能出現負峰,有時可以通過改變載氣流量或進樣量克服；2、操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由於工作原理由電子捕獲轉變為電離檢測，此時靈敏度還會大大降低；3、操作FID，低電離效率的溶劑(如CS2)或雜質出現，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰；4、操作...

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